可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試可程式恒溫恒濕試驗箱試驗機適用電子、電工、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變濕熱試驗箱環境下貯存、運輸、使用時的使用性試驗。
| 型號:SMD-150PF | 瀏覽量：2486 |
| 更新時間：2023-10-24 | 是否能訂做：是 |
恒溫恒濕試驗機、恒溫恒濕實驗箱、可程式濕熱交變試驗箱、恒溫機或恒溫恒濕箱，用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之用。符合標準:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗
可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試
型號：SMD-150PF
外形尺寸：500*500*400
內箱尺寸：750*1224*1615
可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試
1、溫度范圍:-60℃~150℃
2、濕度范圍:30~98%RH(溫度在25℃~80℃時)
3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)
4、濕度均勻度:+2、-3%RH
5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
6、濕度波動度:±2%
7、溫度偏差:±2℃
8、濕度偏差:±2%
9、降溫速率:0.7~1.0℃/min
10、升溫速度:1.0~3.0℃/min
11、時間設定范圍:1~9999H
12、濕度交變范圍:40~98%RH
