HAST非飽和試驗(yàn)箱的生產(chǎn)廠家，東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品

專注應(yīng)用領(lǐng)域

本設(shè)備廣泛應(yīng)用于所有對可靠性有很高要求的行業(yè)，是保障產(chǎn)品品質(zhì)的“守門員"：

半導(dǎo)體與集成電路：IC芯片、MCU、功率器件（IGBT）、存儲器、傳感器等的封裝密封性測試、抗?jié)駳饽芰υu估、HCI（熱載流子注入）效應(yīng)測試等。

汽車電子：針對車規(guī)級芯片（AEC-Q100）和ECU、BMS、傳感器模塊，測試其耐受發(fā)動機(jī)艙高溫高濕環(huán)境及長期服役的可靠性。

航空航天：機(jī)載計(jì)算機(jī)、導(dǎo)航通信模塊等關(guān)鍵電子設(shè)備，在嚴(yán)苛高低溫循環(huán)及高壓環(huán)境下的耐候性與壽命驗(yàn)證。

PCB與元件：印刷電路板（PCB）、連接器、電感、電容、磁性材料在濕熱環(huán)境下的性能衰減評估。

新材料研究：高分子材料、復(fù)合封裝材料（如底填膠）、光伏組件（EVA）、特種涂鍍層等在高壓濕熱條件下的老化行為研究

可靠測試標(biāo)準(zhǔn)

我們的設(shè)備設(shè)計(jì)與制造嚴(yán)格遵循國際及國內(nèi)主流可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)，確保您的測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得認(rèn)可：

IEC：IEC 60068-2-66 (試驗(yàn)Cx), IEC 60749

JEDEC：JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

國標(biāo)：GB/T 2423.40

汽車電子：AEC-Q100/Q101

行業(yè)評價方法：支持如《復(fù)雜組件封裝關(guān)鍵結(jié)構(gòu)壽命評價方法》（T/CIE 143-2022）等標(biāo)準(zhǔn)中提及的加速壽命試驗(yàn)要求。

HAST非飽和試驗(yàn)箱

工作原理簡述

HAST試驗(yàn)的核心原理是利用非飽和高壓蒸汽（溫度高于100℃，相對濕度低于100%）的高能量狀態(tài)，極大加速水汽向產(chǎn)品內(nèi)部的滲透和擴(kuò)散過程。

環(huán)境建立：首先，設(shè)備將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升至遠(yuǎn)高于100℃（如130℃），同時通過蒸汽發(fā)生與壓力控制，在箱內(nèi)建立對應(yīng)的壓力（如0.2MPa以上）和預(yù)設(shè)的非飽和濕度環(huán)境。

加速應(yīng)力：在此環(huán)境下，水分子具有T很高的動能和滲透力，能迅速穿透高分子材料、封裝縫隙或微小缺陷，抵達(dá)芯片、線路等核心部位。

誘發(fā)失效：水汽與金屬離子結(jié)合，在電場（若施加偏壓）和高溫的共同作用下，誘發(fā)電化學(xué)腐蝕、枝晶生長、絕緣電阻下降等失效模式，從而在幾十到幾百小時內(nèi)模擬出戶外數(shù)年才能發(fā)生的故障。

服務(wù)與保障

我們承諾提供全面的售前、售中與售后服務(wù)：

售前咨詢：根據(jù)您的具體測試樣品和標(biāo)準(zhǔn)，提供定制化的設(shè)備配置與測試方案。

交付與培訓(xùn)：專業(yè)工程師上門安裝調(diào)試，并對操作人員進(jìn)行系統(tǒng)培訓(xùn)，直至其能獨(dú)立操作。

質(zhì)量保證：設(shè)備整機(jī)質(zhì)保1年，核心部件提供更長周期支持。

技術(shù)支持：提供7x24小時電話支持，快速響應(yīng)維修需求，并可根據(jù)需要提供付費(fèi)的預(yù)防性維護(hù)計(jì)劃和期間核查方案。